კომპლექსური ორმაგისხივთტეხის განაწილების განსაზღვრის მეთოდი პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული ელემენტის საფუძველზე

ჩვენ შევიმუშავეთ ახალი მოხერხებული პოლარიმეტრული მეთოდი ანიზოტროპული მასალების ნიმუშებში კომპლექსური ორმაგსხივთტეხის განსაზღვრისათვის პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული ელემენტის საფუძველზე. ჩატარდა ორმაგი სხივტეხის და დიქროიზმის განაწილების რაოდენობრივი დამოკიდებულების დადგენა პოლიმერული ფირების ქიმიურ სტრუქტურაზე და გრადიენტული ორიენტაციის რეჟიმზე (ანიზოტროპიის განაწილება, ფარდობითი წაგრძელება, ტემპერატურა). შემუშავდა თეორიული მოდელი მასალებისათვის, რომლებსაც გააჩნდათ როგორც ორმაგისხივთატეხა ასევე წრფივი დიქროიზმი. შეიქმნა დანადგარის ლაბორატორიული მოდელი ორმაგისხივთატეხის და დიქროიზმის განსაზღვრისათვის, რომლის საშუალებით შესაძლებელია ნიმუშების სკანირება სინათლის კონებით სხვა და სხვა ტალღის სიგრძით. მეთოდის ექსპერიმენტული შემოწმებისათვის დამზადდა პოლიმერის ფირის ნიმუშები პოლივინილის სპირტის საფუძველზე, რომელშიც შეყვანილი იყო ორი ტიპის დიქროიზმული საღებარი. ოწმაგისხივთტეხის განაწილების განსაზღვრა ჩატარდა გამოყენებული მასალის შთანთქმის ზოლის გარეთ.

მიღებული მასალების საფუძველზე ორმაგი სხივთტეხის ერთგვაროვანი განაწილებით, შესაძლებელია მიღებული იქნას ფსევდოდეპოლარიზატორები, ხოლო გრადიენტული გაჭიმვის მქონე ფირების საფუძველზე კი კომპენსატორების ანალოგიური ელემენტები. პოლარიზაციული ოპტიკური ელემენტების შექმნა პოლიმერული ფირების საფუძველზე ქმნის პერსპექტივას შეიცვალოს ძვირად ღირებული კრისტალური მცირე აპერტურის მქონე პოლარიზაციულ–ოპტიკური ელემენტები იაფი, ნებისმიერი დიდი აპერტურის მქონე პოლიმერული ფირის ელემენტებით.