პროექტის მოკლე აღწერა
შემუშავდა ინოვაციური და უნივერსალური ელიფსომეტრული მეთოდი რეალურ დროში ობიექტიდან არეკლილი სინათლის პოლარიზაციის მდგომარეობის სრული ანალიზის საფუძველზე მხოლოდ ერთი მაანალიზებელი ელემენტის – ჩვენ მიერ შემუშავებული ინტეგრალური პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული დიფრაქციული ელემენტის გამოყენებით.
ამგვარი ელემენტი იძლევა საშუალებას რეალურ დროში განისაზღვროს სტოქსის ოთხივე პარამეტრი ელემენტზე დიფრაგირებული კონების ინტენსიობების ერთდროული გაზომვით.
პროექტში შემუშავდა ამ მეთოდის თეორიული მოდელი, რომელმა დაადგინა კავშირი ელიფსომეტრულ და ოპტიკურ პარამეტრებსა და სტოქსის პარამეტრებს შორის. განსაზღვრული იყო ელიფსომეტრული და ოპტიკური პარამეტრები ჩვენ მიერ პროექტში მიღებული ფორმულების და შესაბამისი პროგრამული უზრუნველყოფის გამოყენებით.
ძირითადი მონაცემები
პროექტის სტატუსი და ვადები
კვლევის შედეგი
მიღებულია მაღალეფექტური და სტაბილური პოლარიზაციულად მგრძნობიარე მასალა, რომელზეც ჩაიწერება მაღალი დიფრაქციული ეფექტურობის მქონე პოლარიზაციულ-ჰოლოგაფიული დიფრაქციული ელემენტი. ამ ელემენტის საფუძველზე შემუშავდა და შეიქმნა პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული სპექტროელიფსომეტრის მოქმედი ლაბორატორიული მოდელი. დამზადდა სხადასხვა ტიპის საცდელი ნიმუშები. ჩატარდა ლაბორატორიული მოდელის აპრობირება საცდელ ნიმუშებზე. განისაზღვრა ამ მოდელის გარჩევისუნარიანობა, მგრძნობიარობა, სიზუსტე და სწრაფქმედება. განსაზღვრულია ლაბორატორიული მოდელის გამოყენების არე და ნაჩვენებია მისი უნივერსალობა.
მიღებული თეორიული და ექსპერიმენტული შედეგების საფუძველზე შემუშავდა რეკომენდაციები პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული სპექტროელიფსომეტრის სამრეწველო პროტოტიპის შექმნისათვის. შემოთავაზებული მეთოდი ამ დრომდე არ იყო განხორიელებული ელიფსომეტრიაში და ამგვარი მიდგომა ინოვაციურია და პერსპექტიული. ამ მეთოდის საფუძველზე შექმნილი სპექტროელიფსომეტრი იქნება შედარებით მარტივი, ზუსტი, კომპაქტური და იაფი.